サービス・受託

受託分析

粉体からバルクまで:企業と技術と人との融合から創造


充実のラインナップで粉体からバルクまで、あらゆる特性の測定・分析・評価ニーズに対応いたします。

  • 最深ノウハウ・最新設備・最心技術

  • 迅速・正確・多面的・総合的

  • 独自開発装置によるユニークな分析評価

  • 徹底した機密保持

ホソカワミクロン株式会社 粉体工学研究所/測定分析センターでは、新素材の開発とラインコントロールに必要な高精度粉体物性、材料分析評価業務を100年におよぶノウハウ(最深)、最新設備、心がこもった(最心)技術でお応えいたします。

最新の自社測定・分析・評価機器を豊富に揃え、日々自動化やシステム化の改善を図ることで、測定精度の一層の向上と迅速化を推進しています。

特殊な分析についても、各分野の専門家が測定や分析結果を元に、総合的な解析や評価を行い、お客様の問題解決のお手伝いをいたします。

ぜひ一度、お問い合わせ下さい。

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形態解析

  • 特殊な試料加工(CP)
  • 顕微鏡観察撮影(SEM,FE-SEM,レーザー顕微鏡)
  • 微細構造解析(EDS)

形態解析のイメージ

物性評価

  • 比表面積(BET1点法、BET多点法)
  • 粒子径分布(乾・湿式レーザ回折法、光散乱法、電気抵抗法等)
  • ふるい分け(乾式ふるい分け:エアージェットシーブ、湿式ふるい分け:ヴィブレット
  • 粒子形状(フロー式画像解析法)
  • 真密度(ピクノメータ法)
  • 水分値(カ―ルフィッシャー法、恒温槽法、赤外線加熱法)
  • 帯電量分布(レーザードップラー法:イ―スパートアナライザ
  • ぬれ性(浸透重量検知法:ペネトアナライザ
  • 流動性・噴流性(Carrの指数:パウダテスタ
  • 細孔分布(ガス吸着法)
  • ゼータ電位(電気泳動法)
  • 熱分析(TG、DTA、DSC、TMA)
  • 粘弾性(回転または振動による測定、MCRレオメータ)

物性評価のイメージ

組織構造

  • 特殊な試料加工(CP)
  • 顕微鏡観察撮影(SEM、FE-SEM、レーザー顕微鏡)
  • 微細構造解析(EDS)

組織構造のイメージ

分野

  • セラミックス
  • 建設及び建材
  • 石油化学製品
  • ゴム及びゴム製品
  • プラスチック製品
  • 電子部品
  • 鉱業及び鉱物
  • 塗料及びコーティング
  • 製紙及び包装材
  • 化学薬品
  • 自動車部品
  • 製薬・製剤
  • 繊維
  • 食品及び食品加工
  • 化粧品
  • 海洋資源
  • 環境関係
  • 農業関係
  • エネルギー変換材料
  • 光エネルギー材料
  • 航空宇宙及び航空機
  • 通信機器
  • その他

独自開発の機器で物性を把握


粉体を取り扱うプロセスにおいて、その物性を把握しておくことは特に重要となります。 粉体の大きさ・形状(円形度)・帯電性・流動性・噴流性・付着性・凝集性・ぬれ性の指数を、独自開発の計測機器によって解析・評価します。


粒子像の解析(フロー式画像解析装置FPIA)

フロー式画像解析法でリアルタイムに画像処理することにより、懸濁液中の粒子画像・粒子径分布・凝集状態・円形度などを短時間に解析します。


帯電性の評価(イースパートアナライザ

レーザードップラー法により、個々の粒子が持つ帯電量と粒子径(3次元表示)をリアルタイムに測定が可能です。 粉体の逆極性の割合・弱帯電の割合など、帯電に起因する原因調査のひとつとして、きめこまかに評価します。帯電量分布を計測できる唯一の装置です。




流動性・噴流性評価(パウダテスタ

粉体特性評価項目である安息角、圧縮度、スパチュラ角、凝集度(または均一度)、崩壊角、差角、分散度などの7項目から流動性・噴流性の程度をCarrの指標を元に数値化します。多数の納入実績から業界標準装置と認知された当社の代表機種の一つです。




ぬれ性評価(ペネトアナライザ

粉体層に浸透する媒液の重量(浸透重量)の経時変化を自動的に測定し、その浸透速度から、ぬれ性(液との親和性)を評価します。粉体以外に多孔質体、紙、布、錠剤などへの浸透速度の測定も可能です。




ふるい分け測定(乾式湿式

ふるい分けは唯一ギャランティ可能な粒子径の評価方法として、古来より活用されています。乾式法は、ジェット流による分散効果でふるい分けを迅速に行えるエアージェットシーブにて分級します。
乾式ではふるい分け不可な静電付着、強凝集性、低密度、含油性などは、湿式篩法が有効です。
湿式法は、湿式ふるい分け専用装置として世界で唯一のヴィブレットによって、迅速且つ正確なふるい分けを実現します。レーザ回折散乱法では検出できない、微量な粗大粒子の測定や湿式分級機として利用いただいております。また湿式評価の技術を伝承する装置としての実績も豊富です。





基礎物性の測定


粉体は最終製品だけでなく、大部分が原料及び中間体として存在し、その基礎物性は生産管理及び素材開発に大きな影響があると考えられます。 粉体の基礎物性には一般的に密度(真密度、かさ密度)、比表面積、粒度(粒子径)、粒子形状、粒度分布(粒子径分布)、粒子表面のゼータ電位及び水分値などがあり、これらを正確に把握しておくことは極めて重要なことです。

  • 比表面積、細孔分布の測定
    固体の比表面積(BET1点法及びBET多点法など)と細孔分布をガス吸着法(定容法)により測定します。

  • 粒度分布(粒子径分布)の測定(乾式・湿式)
    レーザ回折散乱法による、超ワイドな粒子径範囲(0.02~1400μm)で散乱光、回折光を検出し粒子径分布を迅速に測定します。

  • ゼータ電位の測定
    試料粒子の凝集傾向を見るため、粒子表面(すべり面)の電位(ゼータ電位)を測定します。

  • 熱分析(TG、DTA、DSC、TMA)
    温度変化における重量変化(TG)、標準物質との温度差(DTA)および熱流差(DSC)、力学的特性(TMA)を測定することにより、物質の昇華、蒸発、熱分解、脱水、融解、ガラス転移、結晶化、変形(圧縮・膨張)などの物理的性質を分析します。

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